蔡司X射線顯微鏡

   蔡司Xradia800UltraX射線顯微鏡總體描述

   創(chuàng)新的Xradia800Ultra，將高通量實驗室X射線源與專業(yè)的X射線光學器件整合至一套獨立的超高分辨率CT掃描X射線顯微鏡中，從而填SEM、TEM或AFM等現(xiàn)有高分辨率成像技術(shù)與光學顯微鏡技術(shù)或傳統(tǒng)microCT技術(shù)之間的空白。

   蔡司Xradia800UltraX射線顯微鏡技術(shù)參數(shù)：

   無損三維X射線成像允許在直接微觀結(jié)構(gòu)觀察下對同一樣品進行重復(fù)成像

   在原位設(shè)備中樣品成像保持低至50nm的高分辨率

   用于斷層掃描重構(gòu)的圖像自動調(diào)整功能

   視野可在15至60μm的范圍內(nèi)進行切換

   吸收襯度和Zernike相位襯度成像模式

   在實驗室中開發(fā)、準備、測試你計劃的同步實驗，讓有限的同步輻射時間更加有效率

   搭配Scout-and-Scan控制系統(tǒng)和基于工作流程的用戶界面，尤其適合研究人員水平各不相同的中心實驗室

   特點：

   Xradia800Ultra的分辨率低至50nm，使微觀結(jié)構(gòu)和進程可視化，這些是傳統(tǒng)實驗室X射線技術(shù)不能實現(xiàn)的。在X射線能量為8KeV下運行，穿透力和襯度適合各種材料，使您可以觀察自然狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)和材料。

   集成相位襯度技術(shù)的Xradia800Ultra運用Zernike方法在吸收襯度低時可增強晶界和材料交界處的可見度，使未染色的超結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)可視化。

   蔡司Xradia800Ultra采用類似橫切法的無損技術(shù)，提供可信賴的內(nèi)部3D信息。大工作距離和空氣樣品環(huán)境使您可以輕松的進行原位研究。